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Category: Machines for metrology room (ZEISS metrology)

ZEISS O-INSPECT

ZEISS O-INSPECT

Description

ZEISS O-INSPECT aparece en el legacy como una plataforma multisensor para tareas de metrología que combinan captura óptica y táctil. AMS la incorpora como producto de ZEISS con entidad comercial clara, apoyada por brochure y assets propios, ideal para preservar una pieza fuerte del catálogo dimensional sin mezclarla con páginas puramente accesorias.